SPECTRO　XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪

型号：型号未知

产品概述

　　SPECTRO XEPOS具有广泛的应用领域—从石化、建材、废物处理以及再加工工业到直接产品控制。油中各种元素的分析便是一例。使用SPECTRO XEPOS，在氮气保护状态下，在300秒钟之内，对于元素 P、S、Cl、Ca、Cu、Zn和Ba的检测下限在1—7ｕg/g。在检出下限以上，测量的重现性RSD小于或等于1％。SPECTRO XEPOS也适用于耐火材料及陶瓷工业的分析。采用四硼酸锂熔片制样法时，样品中主要成分测量的重现性RSD＝0.22％配套部件： 　　X射线荧光分析的一个显著特点是试样制备简单。如果用实际考察过的制样设备能进一步简化您的工作。　　斯派克公司有一系列XRF光谱分析用辅助设备，包括：用于制备熔片的试样熔融系统。试样熔融后可防止颗粒度、基体和表面粗糙效应。手动压力机和压样膜把粉末试样直接压成试片。熔融和压片都能直接放在光谱仪上分析而无需进一步加工。如果某些样品还需要进一步粉碎，斯派克公司有不同的粉碎机、球磨、振动和离心磨。

技术参数

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